Отчет о лабораторной работе “Сканирующая туннельная микроскопия”

Целью работы являлось исследование геометрических параметров топографии поверхности проводящих образцов и определение электронной структуры поверхности представленных образцов. Образцы для исследования представляли собой пластинки из золота и никеля.

В ходе работы решались следующие задачи:

1. Подготовка образцов к дальнейшему исследованию.
2. Снятие кривых подвода.
3. Снятие вольтамперных характеристик.
4. Снятие скана поверхности образца с помощью СТМ.

В ходе проделанной работы нами были получены два скана поверхности золота и скан поверхности никеля, также были получены данные о топологии представленных образцов.